模組

符合GB31241-2014 GB/T314385-2015GB/T31467.3-20試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，電池性能測(cè)試、環(huán)境適應(yīng)性及可靠性試驗(yàn)、安全測(cè)試等，高溫性能測(cè)試、恒定溫濕測(cè)試、熱沖擊測(cè)試、低壓測(cè)試等環(huán)境可靠性試驗(yàn)部分。

電芯

符合GB31241-2014 GB/T314385-2015GB/T31467.3-20試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，電池性能測(cè)試、環(huán)境適應(yīng)性及可靠性試驗(yàn)、安全測(cè)試等，高溫性能測(cè)試、恒定溫濕測(cè)試、熱沖擊測(cè)試、低壓測(cè)試等環(huán)境可靠性試驗(yàn)部分。

光伏板

外殼防護(hù)、低溫、高溫、沖擊、振動(dòng)、濕熱、防腐蝕等，硅片老化測(cè)試、溫濕貯存，溫度85°C、濕度85%濕熱貯存1000h后組件功率衰減測(cè)試。

核電

高低溫、冷熱沖擊、濕熱交變、溫度循環(huán)等,核電配套設(shè)備及電子元器件外部應(yīng)力,如環(huán)境溫度輻射振動(dòng)沖擊，或其他機(jī)械和化學(xué)應(yīng)力都會(huì)加速元器件的老化。高溫以及溫度循環(huán)也是電子元器件和電子設(shè)備老化的主要原因。

現(xiàn)場(chǎng)交機(jī)拍攝